CINNO Research產業(yè)資訊，據報道，蘋果正在開發(fā)一種可以提高Micro-LED顯示器轉移效率的芯片質量管控方法。與目前廣泛應用的OLED顯示器相比，Micro-LED顯示器具有許多優(yōu)勢，可能會在Apple Watch或iPhone等未來設備中使用。
與LCD或OLED顯示器相比，Micro-LED顯示面板可以提供更好的對比度，更快的響應時間和更低的能耗。據相關報道，蘋果正在考慮將這種顯示面板用于其未來版Apple Watch或iPhone等產品上。
不過，就目前來看，Micro-LED技術還面臨著很多瓶頸性問題。正如蘋果公司在周二授予的專利中指出的那樣，Micro-LED顯示面板商業(yè)化的瓶頸之一就是“拾取和放置Pick-and-Place（拾取和放置）”問題，即巨量轉移問題。為了完成顯示面板的制造，制造商必須使用特定的“Pick-and-Place”技術完成芯片的巨量轉移。一般來說，巨量轉移過程不可避免會因為部分芯片自身問題而導致轉移完成后的重工，此時精確測定Micro-LED芯片的質量情況至關重要。
這就是蘋果公司在其名為“Micro-LED芯片的測試”的專利中要解決的問題。蘋果公司針對Micro-LED顯示面板制作之前芯片的質量設計了一種非常好的監(jiān)測系統(tǒng)。
在該專利的內容中，蘋果公司設計了一種特定的測試設備和體系結構，相應還提供了一種方法。通過設備和方法的使用，制造商可以在將Micro-LED芯片或行/列驅動器轉移到顯示驅動面板上之前對其進行精確定位和監(jiān)測識別。
該設計系統(tǒng)的目標是在將芯片綁定到基板上之前，檢測出質量不合格的Micro-LED芯片。當問題芯片被發(fā)現(xiàn)后，制造商便可以對此做出輕松處理，這樣就非常有助于后段的巨量轉移良率和相應的成本問題。
“在檢測出微型驅動器或者Micro-LED芯片是否正常工作后，系統(tǒng)會相應做出決定處理，” 蘋果公司在專利中寫道：“在一些實施例中，該決定還可以在對顯示器進行過光學掃描之后做出。另外一種替代方案是，在正常工作時測量驅動電路上的電流和/或電壓以確定芯片之間的數(shù)值水平是否符合預期（比如電壓出現(xiàn)特定大小的壓降）。”
在處理方案中，任何特定的微型驅動器或Micro-LED芯片在被檢測出問題后都會被丟棄，并用一顆無缺陷的驅動器或Micro-LED芯片代替。蘋果公司還指出，無論何時進行測試，系統(tǒng)都會使用一種映射方案，來用一些備用的微型驅動器或Micro-LED芯片代替有缺陷的微型驅動器或Micro-LED芯片。
再具體一點，該系統(tǒng)的測試還可以細分成不同的類別。舉個例子，如果Micro-LED顯示器的亮度低于預期，該系統(tǒng)可以繼續(xù)進行一次更嚴格的測試，以確認特定Micro-LED芯片是否出現(xiàn)問題，或者微型驅動器是否導致一定數(shù)量Micro-LED芯片性能的下降。
蘋果公司于2018年3月首次申請該專利，其發(fā)明人包括Mahdi Farrokh Baroughi，Bo Yang，Xian Lu和Hopil Bae。在其中，Bae先前已獲得與自適應亮度控制相關的其他專利。
這里，上述專利所描述的技術何時會應用還不能確定。實際上，蘋果每周都會申請并獲得許多專利，不過這些專利本身并不能保證一定會在將來有實際應用。
據之前的報道來看，蘋果公司正在考慮于2023或2024年，在Apple Watch中使用Micro-LED顯示屏。另外還有報道說，富士康正在爭取蘋果Micro-LED版 iPhone顯示屏的生產訂單。
